產品名(ming)稱：變壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)變形(xing)測(ce)試儀(yi)

變壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)變形(xing)測(ce)試儀(yi)概述(shu)：

  根(gen)據(ju)對(dui)變壓(ya)器(qi)內(nei)部繞組(zu)特征參(can)數(shu)的測(ce)量，采(cai)用目前世界發(fa)達(da)國(guo)家正(zheng)在(zai)開發(fa)完善的內(nei)部故障頻率響(xiang)應(ying)分析(xi)(FRA)方(fang)法(fa)，能(neng)對變壓(ya)器(qi)內(nei)部故障作出準(zhun)確判斷(duan)。

變壓(ya)器(qi)設(she)計制(zhi)造完成後，其(qi)線圈和內(nei)部結構(gou)就確定(ding)下(xia)來，因此(ci)對壹臺(tai)多(duo)繞組(zu)的變壓(ya)器(qi)線(xian)圈而言，如(ru)果(guo)電壓(ya)等(deng)級相同(tong)、繞制方(fang)法(fa)相(xiang)同(tong)，則每(mei)個(ge)線(xian)圈對(dui)應(ying)參(can)數(shu)(Ci、Li)就(jiu)應(ying)該是確定(ding)的。因此(ci)每(mei)個(ge)線(xian)圈的頻(pin)域特征響應也隨(sui)之確定(ding)，對(dui)應的三(san)相線圈(quan)之間(jian)其(qi)頻(pin)率圖譜(pu)具有(you)壹定(ding)可比性。

變壓(ya)器(qi)在(zai)試(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)中發(fa)生(sheng)匝(za)間(jian)、相(xiang)間(jian)短(duan)路，或在(zai)運(yun)輸(shu)過(guo)程(cheng)中發(fa)生(sheng)沖(chong)撞，造(zao)成線(xian)圈(quan)相對(dui)位(wei)移(yi)，以(yi)及(ji)運行過程(cheng)中在(zai)短(duan)路和故(gu)障狀態(tai)下(xia)因電磁拉力造成線(xian)圈(quan)變形(xing)，就(jiu)會(hui)使變壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)的分(fen)布參(can)數(shu)發(fa)生(sheng)變化。進(jin)而影響(xiang)並(bing)改變變壓(ya)器(qi)原(yuan)有的頻(pin)域特征，即頻率響(xiang)應(ying)發(fa)生(sheng)幅度變化和諧振頻(pin)點偏(pian)移(yi)等(deng)。並(bing)根(gen)據(ju)響(xiang)應(ying)分析(xi)方(fang)法(fa)研(yan)制開發(fa)的變壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)測(ce)試儀(yi)，就是這樣壹種(zhong)新穎(ying)的變壓(ya)器(qi)內(nei)部故障無損檢測(ce)設備。它(ta)適用於63kV～500kV電(dian)力(li)變壓(ya)器(qi)的內(nei)部結構(gou)故障檢測(ce)。

  儀(yi)器(qi)是將變壓(ya)器(qi)內(nei)部繞組(zu)參(can)數(shu)在(zai)不(bu)同(tong)頻域的響(xiang)應變化經量化處(chu)理後，根(gen)據(ju)其(qi)變化量(liang)值(zhi)的大(da)小、頻(pin)響(xiang)變化的幅度、區(qu)域(yu)和頻(pin)響(xiang)變化的趨勢(shi)，來確定(ding)變壓(ya)器(qi)內(nei)部繞組(zu)的變化程(cheng)度(du)，進而可以(yi)根(gen)據(ju)測(ce)量結(jie)果判(pan)斷變壓(ya)器(qi)是否已經受(shou)到(dao)嚴(yan)重(zhong)破壞(huai)、是否需要進(jin)行大(da)修。

對(dui)於運行中的變壓(ya)器(qi)而言，無論(lun)過(guo)去是否保存有(you)頻域特征圖，通過比較(jiao)故(gu)障變壓(ya)器(qi)線(xian)圈間(jian)特(te)征圖譜(pu)的差(cha)異(yi)，也可以(yi)對(dui)故障程度進(jin)行判斷(duan)。當然，如(ru)果(guo)保存(cun)有壹套(tao)變壓(ya)器(qi)原(yuan)有的繞(rao)組(zu)特征圖，更(geng)易對(dui)變壓(ya)器(qi)的運(yun)行狀況、事(shi)故(gu)後分(fen)析(xi)和維護檢修提(ti)供更(geng)為精確有力(li)的依(yi)據。

  儀(yi)器(qi)由(you)筆(bi)記(ji)本(ben)及(ji)單(dan)片機構(gou)成高(gao)精度測(ce)量系(xi)統,結(jie)構(gou)緊，操(cao)作簡單(dan)，具(ju)有(you)較(jiao)完備的測(ce)試分(fen)析(xi)功(gong)能(neng)，對(dui)照(zhao)使用(yong)說明(ming)書(shu)或經過短(duan)期培(pei)訓(xun)即可自(zi)行操作(zuo)使用(yong)。

變壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)變形(xing)測(ce)試儀(yi)技(ji)術特點：

采(cai)集(ji)控制(zhi)采用高(gao)速、高集(ji)成化微(wei)處(chu)理器。

筆(bi)記(ji)本(ben)電(dian)腦通(tong)過USB接(jie)口(kou)和儀(yi)器(qi)連接(jie)使(shi)用(yong)。

儀(yi)器(qi)自(zi)動將(jiang)檢測(ce)結果(guo)自動分(fen)析(xi)判(pan)斷(duan)和生(sheng)成電(dian)子(zi)文(wen)檔(Word)，供保存(cun)和打(da)印(yin)。

該儀器同(tong)時滿(man)足電(dian)力標(biao)準DL/T911－2016《電(dian)力(li)變壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)變形(xing)的頻(pin)率響(xiang)應(ying)分析(xi)法(fa)》的技(ji)術條件，

高(gao)速雙通道16位(wei)A/D采(cai)樣(yang)(現(xian)場試(shi)驗改變分(fen)接(jie)開關，波(bo)形(xing)曲(qu)線有明(ming)變化)。

頻(pin)響(xiang)法(fa)硬(ying)件機芯(xin)采用(yong)DDS專(zhuan)用(yong)數(shu)字高速掃(sao)頻(pin)技(ji)術(美(mei)國(guo))，通(tong)過(guo)測(ce)試可以(yi)準(zhun)確診斷(duan)出繞(rao)組(zu)發(fa)生(sheng)扭曲(qu)、鼓包、移(yi)位(wei)、傾斜(xie)、匝(za)間(jian)短(duan)路變形(xing)及(ji)相(xiang)間(jian)接(jie)觸短(duan)路等(deng)故(gu)障。

頻(pin)響(xiang)法(fa)具(ju)有線(xian)性掃(sao)頻(pin)測(ce)量和分(fen)段(duan)掃(sao)頻(pin)測(ce)量雙測(ce)量系(xi)統功(gong)能,兼(jian)容當前國(guo)內兩種(zhong)技(ji)術流派的測(ce)量模(mo)式。

頻(pin)響(xiang)法(fa)幅頻特(te)性符合(he)國(guo)家關於幅頻特(te)性測(ce)試儀(yi)的技(ji)術指(zhi)標(biao)。橫(heng)坐(zuo)標(biao)（頻率）具(ju)有(you)線性分度(du)及(ji)對數分(fen)度兩種(zhong)，因此(ci)打(da)印(yin)出的曲(qu)線可以(yi)是線性分度(du)曲(qu)線也可以(yi)是對數分度(du)曲線，用戶(hu)可根(gen)據(ju)實(shi)際需要選用(yong)。

技(ji)術參(can)數(shu)：

掃(sao)描方(fang)式

線(xian)性掃(sao)描分布(bu)

掃(sao)頻(pin)測(ce)量範(fan)圍：(10Hz)-(10MHz)40000掃(sao)頻(pin)點、分(fen)辨率為(wei)0.25kHz、0.5kHz和1kHz。

分(fen)段(duan)掃(sao)頻(pin)測(ce)量分(fen)布

掃(sao)頻(pin)測(ce)量範(fan)圍：(0.5kHz)-(1MHz)、2000掃(sao)頻(pin)點；

(0.5kHz)-(10kHz)

(10kHz)-(100kHz)

(100kHz)-(500kHz)

(500kHz)-(1000kHz)

其(qi)它(ta)技(ji)術參(can)數(shu)

幅度測(ce)量範(fan)圍: (-120dB)至(+20dB)

幅度測(ce)量精度: 0.1dB

掃(sao)描頻率精度: 0.01%

信號(hao)輸(shu)入(ru)阻抗(kang)：1MΩ

信號(hao)輸(shu)出阻抗(kang)：50Ω

信號(hao)輸(shu)出幅值：±20V

同(tong)相測(ce)試重(zhong)復率：99.9%