智(zhi)能(neng)回路(lu)電(dian)阻測試(shi)儀廠(chang)家(jia)智能回(hui)路(lu)電(dian)阻測試(shi)儀采(cai)用恒流輸(shu)出。高輸(shu)出電壓(ya)達(da)10V(常規(gui)儀器(qi)的(de)2-3倍(bei))可采(cai)用載(zai)面細(xi)的(de)測(ce)試(shi)線(xian),大大(da)減輕(qing)了(le)現場(chang)測(ce)試(shi)人員的(de)勞(lao)動強度(du)。測試(shi)過程(cheng)全(quan)部由(you)單(dan)片(pian)控制(zhi)自(zi)動實施,精度高,復測性(xing)好(hao),單(dan)按(an)鍵操作(zuo),簡(jian)單(dan)易(yi)行,測(ce)試(shi)數據(ju)液(ye)晶顯示,結果(guo)打(da)印。適(shi)用於(yu)不(bu)同(tong)的(de)工(gong)作(zuo)環(huan)境。
壹(yi).概述:智能(neng)回路(lu)電(dian)阻測試(shi)儀是我(wo)廠生(sheng)產的(de)數字化(hua)微歐級工業(ye)儀表(biao), 是電力(li)、電器(qi)等(deng)生(sheng)產部門(men)迫切(qie)需要的(de)測(ce)試(shi)儀器(qi),產品設(she)計(ji)新(xin)型,使(shi)於室內和經(jing)常流(liu)動的(de)測(ce)試(shi)場(chang)合(he)。所(suo)推(tui)薦的(de)直(zhi)流(liu)100A測(ce)試(shi)電流(liu),符(fu)合(he)IEC694-84、IEC56對測試(shi)回路(lu)電(dian)阻的(de)要求。智(zhi)能型屬(shu)改進(jin)型,它(ta)具有即(ji)時打(da)印(yin)和全打兩種打(da)印功(gong)能(neng),同時數據(ju)還(hai)可以(yi)儲存。
壹(yi)、特(te)點(dian):
1.自(zi)動恒流,有效地(di)減少了(le)交(jiao)流(liu)電源(yuan)的(de)波(bo)動對測(ce)試(shi)結果(guo)的(de)影(ying)響(xiang)。
2.采(cai)用與標(biao)準(zhun)電(dian)阻相比較的(de)方(fang)法(fa)來(lai)測試(shi)微歐值(zhi),大大(da)減(jian)少了(le)測(ce)試(shi)電流(liu)的(de)波(bo)動對儀表(biao)精度的(de)影(ying)響(xiang)。
3.采(cai)用四端子(zi)接線(xian)法(fa),有效地(di)排除(chu)了(le)測(ce)試(shi)線(xian)電阻對測試(shi)結果(guo)的(de)影(ying)響(xiang)。
4.操作(zuo)簡(jian)單(dan),只要按壹(yi)下(xia)測(ce)試(shi)鍵,便可得(de)到(dao)被測(ce)回路(lu)電(dian)阻值(zhi)及(ji)測試(shi)電流(liu)值(zhi)。
5.被測(ce)回(hui)路(lu)電(dian)阻值(zhi)可以(yi)即(ji)時打(da)印(yin)也(ye)可選擇(ze)儲(chu)存,便於觀察記錄。
6.體(ti)積(ji)小(xiao),重量輕(qing),便於攜帶(dai)。
二、測(ce)試(shi)原理(li):
1.工(gong)頻交(jiao)流(liu)電源(yuan)整(zheng)流後(hou)轉(zhuan)變成40KHz高頻(pin)電(dian)源(yuan),再(zai)變(bian)壓(ya)整(zheng)流成低(di)壓(ya)直(zhi)流電(dian)源(yuan),反(fan)饋信(xin)號取(qu)至於負載(zai)電阻上的(de)壓(ya)降(jiang)。經(jing)處理(li)後(hou)調整(zheng)高頻(pin)電(dian)流的(de)脈(mai)沖寬度,即(ji)采(cai)用脈(mai)沖調寬技術(shu)來(lai)達(da)到(dao)自(zi)動恒流的(de)效果(guo)。
2.當直(zhi)流100A測試(shi)電流(liu)通(tong)過被(bei)測電(dian)阻Rx時,產生壓(ya)降(jiang)VRX,同時(shi)通(tong)過機(ji)內標(biao)準(zhun)電(dian)阻RR產生壓(ya)降(jiang)VRR。精度高於(yu)壹(yi)般(ban)的(de)電(dian)橋(qiao)測(ce)試(shi)。
三、智(zhi)能(neng)回(hui)路(lu)電(dian)阻測試(shi)儀廠(chang)家(jia)測試(shi)步(bu)驟(zhou):
1.將(jiang)交(jiao)流(liu)電源(yuan)線(xian)、電流(liu)線(xian)、測試(shi)線(xian)接到(dao)各(ge)自(zi)插(cha)座(zuo)中(zhong)。采(cai)用四端子(zi)接線(xian),電流(liu)線(xian)接在被測電阻外端,信(xin)號線(xian)接在同色電(dian)流(liu)線(xian)的(de)內側。
2.接通(tong)電源(yuan)開關,LED應(ying)顯示(shi)JD--100,按壹(yi)下(xia)”測(ce)試(shi)鍵”,啟動指示(shi)燈亮(liang)壹(yi)下(xia),隨(sui)後便可得(de)到(dao)回路(lu)電(dian)阻的(de)微歐值(zhi)及(ji)測試(shi)電流(liu)安(an)培值(zhi)。測試(shi)電流(liu)值(zhi)為三(san)位(wei)LED顯示(shi),單(dan)位(wei) “A” ,回路(lu)電(dian)阻值(zhi)是四位(wei)LED顯示(shi),單(dan)位(wei)”μΩ,
3.如果(guo),這(zhe)次測量(liang)正(zheng)常,可以(yi)按壹(yi)下(xia)儲(chu)存鍵保存數據(ju),如果(guo)不(bu)需要保存,只要按住(zhu)測量鍵不放(fang),就(jiu)能(neng)打印(yin)壹(yi)張屏(ping)顯數據(ju)---即(ji)打。
4.如果(guo),這(zhe)次測量(liang)不(bu)正常,可以(yi)繼續按壹(yi)下(xia)測(ce)量(liang)鍵進(jin)行測(ce)量(liang)。
5.本儀器(qi)可以(yi)儲存數據(ju)為四組,如果(guo)想打(da)印(yin)全(quan)部儲(chu)存的(de)數據(ju)----全打(da)只要按住(zhu)儲存健不放(fang),就能(neng)打(da)印(yin)全(quan)部數據(ju),共(gong)四組。
6.按壹(yi)下(xia)“查(zha)看(kan)”鍵,就能(neng)閱(yue)讀所(suo)有儲存的(de)數據(ju),每按(an)壹(yi)下(xia),看(kan)壹(yi) 組數據(ju)(請先(xian)復位(wei))。
7.如果(guo)要清除(chu)以前儲存的(de)數據(ju),只要按住(zhu)清除(chu)鍵約1秒(miao),以(yi)前的(de)數據(ju)全部清除(chu)(請先(xian)復位(wei))。
8.如果(guo)測(ce)試(shi)電流(liu)太(tai)大(da)或太小(xiao),可以(yi)微調(tiao)“電(dian)流(liu)微調(tiao)”電(dian)位(wei)器(qi)。
四、註意(yi)事項(xiang):
1.機箱內部散(san)熱(re)器(qi)等(deng)元(yuan)件(jian)直(zhi)接與市(shi)電(dian)相連(lian),故(gu)切(qie)勿(wu)任意打(da)開機(ji)蓋以(yi)確(que)保人(ren)身安(an)全。
2.在測試(shi)過程(cheng)中(zhong),被測電(dian)阻不能脫(tuo)開,否則(ze)易(yi)損(sun)壞(huai)儀器(qi)。
3.測(ce)試(shi)高低(di)壓(ya)開關時,被(bei)測件(jian)必(bi)須接地(di)。
4.電流線(xian)的(de)長度(du)和(he)截面有壹(yi)定(ding)要求,不(bu)宜隨(sui)意更改(gai)。
5.本(ben)儀器(qi)采(cai)用三(san)眼(yan)電(dian)源(yuan)插(cha)座(zuo),地(di)線(xian)端必(bi)須接地(di)良好(hao)。
6.本儀器(qi)不(bu)得(de)測(ce)試(shi)帶電(dian)物(wu)體(ti),有感(gan)元(yuan)件(jian)(如變(bian)壓(ya)器(qi)、電(dian)機(ji)線(xian)包)的(de)回(hui)路(lu)電(dian)阻。