微(wei)機繼電(dian)保(bao)護測(ce)試儀用(yong)途(tu)廣(guang)泛(fan)，來(lai)壹(yi)起了(le)解(jie)壹(yi)下！
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微(wei)機繼電(dian)保(bao)護測(ce)試儀是(shi)保證(zheng)電(dian)力(li)系(xi)統(tong)安全可靠運行的(de)壹(yi)種重(zhong)要(yao)測(ce)試工(gong)具(ju)。微(wei)機繼電(dian)保(bao)護已廣泛運用於(yu)線路保護，主變差(cha)動保護，勵(li)磁(ci)控制(zhi)等(deng)各個(ge)領域(yu)。變電(dian)站(zhan)綜合(he)自動(dong)化(hua)已成(cheng)為(wei)主流(liu)。隨著(zhe)計(ji)算(suan)機(ji)技(ji)術(shu)、微(wei)電(dian)子(zi)技(ji)術(shu)、電(dian)力(li)電(dian)子(zi)技(ji)術(shu)的(de)飛(fei)速(su)發展，應用成(cheng)果不斷推(tui)出(chu)新型(xing)高性能繼電(dian)保(bao)護測(ce)試裝(zhuang)置是(shi)技(ji)術(shu)進步(bu)的(de)必(bi)然(ran)趨(qu)勢(shi)。
工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)：
內(nei)嵌計算機為(wei)具(ju)有(you)雙(shuang)向並口(kou)工(gong)控(kong)機，支(zhi)持(chi)標準(zhun)101鍵盤(pan)，LCD或CRT。當儀器面(mian)板交(jiao)流(liu)電(dian)源開關合(he)上時(shi)，計(ji)算機啟(qi)動,同時(shi)儀(yi)器產生(sheng)±5V、±15V、25V電(dian)壓(ya)，這時(shi)D/A板(ban)能正常工(gong)作(zuo)，測(ce)試儀自(zi)動(dong)進入(ru)主菜(cai)單,當選擇某壹(yi)應用(yong)程(cheng)序(xu)後(hou)，PC機打(da)開功放電(dian)源軟開關，此時(shi)若(ruo)按下面(mian)板功(gong)放(fang)按鈕(niu)，則(ze)功(gong)放(fang)電(dian)源投入，功放能正常工(gong)作(zuo)。
微(wei)機繼電(dian)保(bao)護測(ce)試儀用(yong)途(tu)
1.二(er)次(ci)調(tiao)度(du)中(zhong)所(suo)有(you)單個元件(jian)的(de)測(ce)試(電(dian)流(liu)、電(dian)壓(ya)、時(shi)間(jian)、差動、平衡、負序(xu)、距離、功率方(fang)向(xiang)、反時(shi)限(xian)、頻(pin)率、同(tong)期(qi)、重合(he)閘(zha)等(deng)繼(ji)電(dian)器)。
2.整組傳動，能摸擬各種(zhong)簡(jian)單或復雜(za)的(de)瞬(shun)時(shi)性，轉換性故(gu)障，可在基(ji)波(bo)上(shang)疊加暫態(tai)直(zhi)流(liu)分(fen)量。
3.能隨意(yi)疊加各次(ci)諧(xie)波(bo)，疊加初始角及(ji)含(han)量(liang)在線可控。
4.可分相(xiang)輸(shu)出(chu)不(bu)同(tong)頻(pin)率交(jiao)流(liu)量(liang)、交(jiao)直(zhi)流(liu)兩用。
5.專用低周(zhou)單元,可方便(bian)測(ce)試微(wei)機低周(zhou)低壓(ya)減載(zai)保(bao)護。
6.各種(zhong)保(bao)護時(shi)間(jian)特性的(de)自(zi)動(dong)掃(sao)描。功(gong)率及(ji)阻(zu)抗(kang)保護特性曲(qu)線(xian)的(de)掃(sao)描。
7.微(wei)機主變保(bao)護差動比例及(ji)諧(xie)波(bo)制(zhi)動(dong)特性的(de)自(zi)動(dong)測(ce)試。
8.整組距(ju)離、零(ling)序、過(guo)流(liu)保(bao)護自動測(ce)試。
9.用戶可編程(cheng)測(ce)試單元，以滿足特(te)殊試(shi)驗(yan)用途(tu)，例(li)備(bei)自(zi)投裝(zhuang)置的(de)測(ce)試。
10.電(dian)機(ji)失(shi)磁(ci)失(shi)步(bu)、反激(ji)磁(ci)、逆(ni)功率及(ji)同(tong)期(qi)等(deng)各種(zhong)保(bao)護的(de)測(ce)試。
