什麽(me)是(shi)變壓器(qi)的空載試(shi)驗(yan)?

變壓器(qi)的空載試(shi)驗(yan),是從(cong)變壓器(qi)的任壹(yi)側繞(rao)組(zu)施加(jia)正(zheng)弦(xian)波(bo)額定(ding)頻率的額定(ding)電壓,其它繞組(zu)開(kai)路,測(ce)量變壓器(qi)的空載損耗和(he)空載電流的試(shi)驗(yan)。空載電流以實(shi)測(ce)的空載電流I0占(zhan)額定(ding)電流Ie的百(bai)分數(shu)來表示,記(ji)為IO。
當試(shi)驗(yan)測(ce)得的數值與(yu)設計計(ji)算值、出廠值、同(tong)類型(xing)變壓器(qi)或大(da)修(xiu)前(qian)的數值有(you)顯著(zhu)差(cha)異時,應(ying)查(zha)明(ming)原因。
空載損耗主要是(shi)鐵損耗,即消耗於(yu)鐵心中(zhong)的磁滯(zhi)損耗和(he)渦(wo)流損(sun)耗。空載時激磁(ci)電流流(liu)過(guo)原邊(bian)繞(rao)組也要產生電阻損耗,如果(guo)激磁(ci)電流很(hen)小(xiao),可以忽(hu)略(lve)不計(ji)。空載損耗和(he)空載電流,取(qu)決(jue)於(yu)變壓器(qi)的容(rong)量(liang)、鐵心構造(zao)、矽鋼(gang)片(pian)的制造(zao)和(he)鐵心制造(zao)工藝等(deng)因素(su)。
導致(zhi)空載損耗和(he)空載電流增大的原因主要有(you):矽鋼(gang)片(pian)間(jian)絕(jue)緣(yuan)不(bu)良(liang);某(mou)壹部(bu)分(fen)矽鋼(gang)片(pian)短(duan)路;穿芯螺栓或壓(ya)板、上(shang)軛(e)鐵以及(ji)其它部分(fen)的絕(jue)緣(yuan)損(sun)壞而形成(cheng)短(duan)路匝;磁路中(zhong)矽鋼(gang)片(pian)松(song)動,甚(shen)至出現氣(qi)隙,使磁(ci)阻增大(主要使(shi)空載電流增大);磁路由較(jiao)厚的矽鋼(gang)片(pian)組(zu)成(空載損耗增加(jia)而(er)空載電流減(jian)小(xiao));采(cai)用(yong)了(le)劣質(zhi)的矽鋼(gang)片(pian)(多見於(yu)小(xiao)型(xing)配(pei)電變壓器(qi));各種繞組(zu)缺陷,包括匝間短路、並(bing)聯支(zhi)路短路,各並(bing)聯支(zhi)路中(zhong)匝數不同(tong)及(ji)安(an)匝數取得(de)不(bu)正確(que)等。此外,由(you)於(yu)磁路接地(di)不(bu)正(zheng)確等原因,也會引(yin)起(qi)空載損耗和(he)電流的增大。對於(yu)中(zhong)小(xiao)型(xing)變壓器(qi),在制造(zao)過(guo)程中(zhong),鐵心接縫的大小(xiao)會顯著(zhu)影(ying)響空載電流。
做(zuo)變壓器(qi)空載試(shi)驗(yan)時,為了(le)便(bian)於(yu)選(xuan)擇儀(yi)表和(he)設備以及(ji)保(bao)證試(shi)驗(yan)安(an)全,壹(yi)般都在___低壓(ya)____側接儀(yi)表和(he)電源,而(er)使(shi)____高壓(ya)___
側開(kai)路
空載試(shi)驗(yan)是測(ce)量額定(ding)電壓下(xia)的空載損耗和(he)空載電流,試(shi)驗(yan)時高壓(ya)側開(kai)路,低壓側加(jia)壓(ya),試(shi)驗(yan)電壓是(shi)低(di)壓側的額定(ding)電壓,試(shi)驗(yan)電壓低(di),試(shi)驗(yan)電流為(wei)額定(ding)電流百(bai)分之(zhi)幾(ji)或千分(fen)之(zhi)幾(ji)。
空載試(shi)驗(yan)的試(shi)驗(yan)電壓是(shi)低(di)壓側的額定(ding)電壓,變壓器(qi)空載試(shi)驗(yan)主要測(ce)量空載損耗。空載損耗主要是(shi)鐵損耗。鐵損耗的大小(xiao)可以認為與(yu)負載的大小(xiao)無關,即空載時的損耗等於(yu)負載時的鐵損耗,但這(zhe)是指額定(ding)電壓時的情況(kuang)。如果(guo)電壓偏(pian)離額定(ding)指,由於(yu)變壓器(qi)鐵芯中(zhong)的磁感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)處(chu)在磁化(hua)曲(qu)線(xian)的飽和(he)段,空載損耗和(he)空載電流都(dou)會急(ji)劇變化,因此,空載試(shi)驗(yan)應(ying)在額定(ding)電壓下(xia)進(jin)行(xing)。
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