在交流(liu)電(dian)壓作用下(xia)，電(dian)介質要消耗部分電(dian)能，這(zhe)部分電(dian)能將(jiang)轉(zhuan)變(bian)為(wei)熱(re)能(neng)產生(sheng)損耗。這種(zhong)能(neng)量(liang)損耗叫做(zuo)電(dian)介質的(de)損耗。當電(dian)介質上施加(jia)交(jiao)流(liu)電(dian)壓時，電(dian)介質中的(de)電(dian)壓和(he)電(dian)流間(jian)存在相(xiang)角(jiao)差(cha)Ψ，Ψ的(de)余(yu)角(jiao)δ稱為(wei)介質損耗角，δ的(de)正(zheng)切(qie)tgδ稱為(wei)介質損耗角正(zheng)切(qie)。tgδ值(zhi)是(shi)用來(lai)衡(heng)量(liang)電(dian)介質損耗的(de)參(can)數。儀器測量(liang)線路(lu)包括壹(yi)標準回路（Cn）和(he)壹(yi)被(bei)試(shi)回(hui)路(lu)（Cx）。標準回路由內(nei)置(zhi)高穩定度(du)標準電(dian)容器與測量(liang)線路(lu)組成(cheng)，被(bei)試(shi)回(hui)路(lu)由(you)被(bei)試(shi)品(pin)和(he)測量(liang)線路(lu)組成(cheng)。測量(liang)線路(lu)由取(qu)樣電(dian)阻與前(qian)置(zhi)放大器和(he)A/D轉(zhuan)換器組成。通過測量(liang)電(dian)路分(fen)別測得標準回路電(dian)流與被(bei)試(shi)回(hui)路(lu)電(dian)流幅(fu)值(zhi)及其(qi)相(xiang)位(wei)等(deng)，再(zai)由單(dan)片(pian)機(ji)運(yun)用數字(zi)化實(shi)時采(cai)集(ji)方法(fa)，通過矢(shi)量(liang)運(yun)算(suan)便(bian)可(ke)得(de)出(chu)試(shi)品(pin)的(de)電(dian)容值(zhi)和(he)介質損耗正(zheng)切(qie)值(zhi)。
儀器內(nei)部已經采(cai)用了(le)抗幹擾(rao)措(cuo)施，保(bao)證在外電(dian)場幹(gan)擾(rao)下(xia)準確(que)測量(liang)。