變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀滿(man)足用戶的(de)技(ji)術要求
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變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀滿(man)足用戶的(de)技(ji)術要求
變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀是(shi)壹款(kuan)全(quan)自(zi)動化(hua)的PT、CT特(te)性(xing)測(ce)試儀器，儀器可以(yi)完成的(de)試驗(yan)包括(kuo)： CT伏(fu)安特(te)性(xing)試驗(yan)、PT伏安(an)特(te)性(xing)試驗(yan)，CT極性(xing)試驗(yan)、PT極性(xing)試驗(yan)，CT變(bian)比(bi)極性(xing)試驗(yan)和PT變(bian)比(bi)極性(xing)試驗(yan)，自(zi)動計(ji)算(suan)CT的(de)任意(yi)點(dian)誤(wu)差曲(qu)線(xian)，CT/PT變(bian)比(bi)比(bi)差等結果(guo)參(can)數(shu)。
變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀全(quan)微(wei)機化(hua)裝(zhuang)置(zhi)，內(nei)置(zhi)進(jin)口(kou)高(gao)性(xing)能(neng)CPU，可靠性(xing)高(gao)，按(an)界面(mian)提示設(she)定(ding)測(ce)試值後，無(wu)需(xu)人工(gong)接觸被測(ce)試設(she)備(bei)，省(sheng)去(qu)手(shou)動調(tiao)壓(ya)、人工(gong)記錄(lu)、整(zheng)理(li)、描(miao)繪(hui)曲(qu)線(xian)等煩(fan)瑣勞動，快捷、簡單(dan)、方便，無(wu)需(xu)計算(suan)機(ji)知(zhi)識(shi)，極易(yi)掌(zhang)握(wo)，使(shi)試驗(yan)人員遠離(li)高(gao)壓(ya)電路，確保其人身(shen)安(an)全(quan)。變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀使(shi)用(yong)高(gao)性(xing)能(neng)光(guang)電(dian)旋(xuan)轉(zhuan)鼠(shu)標作為輸入(ru)設(she)備(bei)，操(cao)作簡單(dan)方便，使(shi)用壽(shou)命(ming)長(chang)。
變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀內(nei)置(zhi)存(cun)儲器，可以(yi)存(cun)儲大(da)量(liang)的(de)試驗(yan)數據(ju)，數(shu)據(ju)保(bao)存(cun)後掉(diao)電不丟(diu)失，現(xian)場試驗(yan)完成後(hou)，可在室內(nei)查(zha)看和打印試驗(yan)結果(guo)，儀器除(chu)了用(yong)旋(xuan)轉(zhuan)鼠(shu)標對其進(jin)行(xing)輸入(ru)控(kong)制(zhi)外(wai)，還(hai)可以(yi)通(tong)過自(zi)帶的RS232通(tong)訊接(jie)口(kou)與(yu)計算(suan)機(ji)聯機，實現PC機(ji)和儀器通(tong)訊，試驗(yan)人員可以(yi)利用(yong)計算(suan)機(ji)控制(zhi)儀器進(jin)行(xing)試驗(yan)或從(cong)儀器上傳試驗(yan)數據(ju)，儀器所帶PC機應用軟(ruan)件功能(neng)強(qiang)大(da)，外(wai)形(xing)美觀(guan)，操(cao)作簡單(dan)，可實現試驗(yan)結果(guo)的(de)保(bao)存(cun)、打印，並(bing)可將(jiang)試驗(yan)數據(ju)導(dao)出(chu)為EXCEL格(ge)式(shi)文檔進(jin)行(xing)編輯(ji)。
變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀僅(jin)需(xu)進(jin)行(xing)數字設定(ding)，設定(ding)高測(ce)試電(dian)壓(ya)、大(da)電流和步(bu)長(chang)，裝(zhuang)置(zhi)將(jiang)自(zi)動從(cong)零(ling)逐步(bu)升(sheng)壓(ya)，可全(quan)自(zi)動地將(jiang)伏(fu)安特(te)性(xing)曲(qu)線(xian)測試描(miao)繪(hui)出(chu)來，省(sheng)去(qu)手(shou)動調(tiao)壓(ya)、人工(gong)記錄(lu)、整(zheng)理(li)、描(miao)曲(qu)線(xian)等煩(fan)瑣勞動。快捷、簡單(dan)、方便。無(wu)需(xu)計算(suan)機(ji)知(zhi)識(shi)，極易(yi)掌(zhang)握(wo)。變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀可測試保(bao)護CT伏安特(te)性(xing)、5％和10％誤差曲(qu)線(xian)，變(bian)比(bi)、極性(xing)，還(hai)可以(yi)輸出(chu)大(da)電流用於測試CT的(de)二次(ci)回路。
變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀全(quan)微(wei)機化(hua)裝(zhuang)置(zhi)，設(she)定(ding)好後*不需(xu)人工(gong)接觸而全(quan)自(zi)動進(jin)行(xing)測試，可使測(ce)試人員遠離(li)高(gao)壓(ya)電路，確保測(ce)試人員安全(quan)，可靠性(xing)高(gao)，若(ruo)裝(zhuang)置(zhi)單(dan)機(ji)的輸出(chu)電壓(ya)、電流不能(neng)滿(man)足要求，也(ye)可以(yi)采(cai)用(yong)用戶自(zi)備(bei)的(de)調(tiao)壓(ya)器與(yu)裝(zhuang)置(zhi)連(lian)接(jie)進(jin)行(xing)測試。外(wai)接(jie)調壓(ya)器試驗(yan)接線(xian)和測試方法(fa)非(fei)常簡單(dan)。變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀選(xuan)配(pei)的(de)外(wai)接(jie)升(sheng)壓(ya)器可升(sheng)至(zhi)2000V、3A，選配(pei)的(de)升(sheng)流器可升(sheng)至(zhi)900A，3000VA，采(cai)用(yong)外(wai)接(jie)升(sheng)壓(ya)器可用於做500KV等(deng)級(ji)1A電(dian)流互(hu)感(gan)器的(de)伏(fu)安特(te)性(xing)試驗(yan)。
變(bian)頻(pin)式(shi)伏安(an)特(te)性(xing)測(ce)試儀大(da)屏幕(mu)圖(tu)形(xing)LCD、全(quan)漢(han)化(hua)圖(tu)形(xing)界面(mian)，測(ce)試時直(zhi)接(jie)顯示伏(fu)安(an)曲(qu)線(xian)圖(tu)，清(qing)晰美(mei)觀，直觀方便，面(mian)板自(zi)帶打印機，可隨時打(da)印曲(qu)線(xian)圖(tu)及(ji)測試數(shu)據(ju)。旋(xuan)轉(zhuan)鼠(shu)標采(cai)用(yong)光電旋轉(zhuan)鼠(shu)標進(jin)行(xing)操作。全(quan)面(mian)取(qu)消(xiao)面(mian)板按(an)鍵、開關(guan)、控制(zhi)旋(xuan)鈕等各(ge)種常規控(kong)件。
