智能回路電阻(zu)測(ce)試儀是新壹(yi)代產品，產品適用於測(ce)試高(gao)低壓(ya)開(kai)關的(de)主(zhu)觸(chu)頭(tou)接觸(chu)電(dian)阻(zu)值(zhi)，高(gao)低壓(ya)電纜線(xian)路的(de)直流電(dian)阻(zu)值(zhi)等(deng)，采用100A200A恒流輸出(chu)，高(gao)輸出(chu)電(dian)壓(ya)達10V，可采用載面(mian)細的(de)測(ce)試線(xian)，大大(da)減輕了(le)現場測(ce)試人員(yuan)的(de)勞(lao)動強(qiang)度(du)。

   智能回路電阻(zu)測(ce)試儀測(ce)試過程全部由(you)單片(pian)控(kong)制(zhi)自動實(shi)施(shi)，精(jing)度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單(dan)按鍵操作，簡(jian)單易(yi)行(xing)，測(ce)試數據(ju)液(ye)晶(jing)顯示，結(jie)果(guo)打(da)印，適用於不(bu)同(tong)的(de)工作環(huan)境(jing)，如(ru)果不(bu)是(shi)在(zai)實(shi)驗(yan)室(shi)環(huan)境(jing)下(xia)，測(ce)試儀必需要(yao)可(ke)靠接地(di)連接後才(cai)可以使用。接地(di)點(dian)的(de)選(xuan)擇(ze)應該盡量靠近(jin)測(ce)試對象(xiang)。斷開(kai)電纜(lan)連接時(shi)，總是(shi)從(cong)輸送(song)功(gong)率(lv)的(de)裝(zhuang)置(zhi)開(kai)始，在裝(zhuang)置(zhi)有(you)輸出(chu)時(shi)，切(qie)勿連接或斷開(kai)測(ce)試對象(xiang)，因(yin)為外(wai)部感(gan)應存貯的(de)能量可能導致致命(ming)的(de)高(gao)電壓(ya)。

   在測(ce)試時(shi)，總是(shi)保持(chi)互(hu)感(gan)器高(gao)壓(ya)側(ce)的(de)壹(yi)個(ge)端子(zi)接地(di)，不(bu)要(yao)將其(qi)它(ta)物(wu)體插(cha)入(ru)通風(feng)口或是輸(shu)入(ru)/ 輸出(chu)口，在將測(ce)試儀置(zhi)入(ru)運(yun)行(xing)前，檢查測(ce)試儀是否有(you)可見(jian)的(de)損(sun)壞(huai)，不(bu)要(yao)在(zai)多(duo)雨或(huo)潮(chao)濕(shi)氣候下(xia)操作測(ce)試儀，不(bu)要(yao)在(zai)易(yi)爆(bao)氣體或(huo)蒸(zheng)汽(qi)存在的(de)環(huan)境(jing)下(xia)操作測(ce)試儀。在將智(zhi)能回路電阻(zu)測(ce)試儀投入(ru)操作前(qian)，確(que)保通(tong)風(feng)口，電源開(kai)關和電(dian)源插(cha)座沒有(you)被阻(zu)塞(sai)。

   智能回路電阻(zu)測(ce)試儀產品別稱(cheng)：接觸(chu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀、開(kai)關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試儀、接觸(chu)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試儀、接觸(chu)(回(hui)路)電阻(zu)測(ce)試儀、電子式(shi)搖(yao)表(biao)、數字(zi)式搖(yao)表(biao)、回路電阻(zu)測(ce)試儀。

   智能回路電阻(zu)測(ce)試儀大大減(jian)輕(qing)了(le)現場測(ce)試人員(yuan)的(de)勞(lao)動強(qiang)度(du)，測(ce)試過程全部由(you)單片(pian)控(kong)制(zhi)自動實(shi)施(shi)，精(jing)度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，簡(jian)單(dan)易行(xing)，測(ce)試數據(ju)液(ye)晶(jing)顯示，結(jie)果(guo)打(da)印。智(zhi)能回路電阻(zu)測(ce)試儀直流電(dian)阻(zu)、高(gao)壓(ya)斷路器的(de)回路電阻(zu)，而(er)這類(lei)電橋(qiao)的(de)測(ce)試電流僅(jin)為m*，難以發(fa)現變壓(ya)器線(xian)圈(quan)導電(dian)回(hui)路導體(ti)截面(mian)積(ji)減少(shao)的(de)缺陷(xian)，在(zai)測(ce)量高(gao)壓(ya)開(kai)關導(dao)電回路的(de)回路電阻(zu)時(shi)，由(you)於受到油膜和動(dong)靜觸(chu)點(dian)間的(de)影響，測(ce)量的(de)電阻(zu)值(zhi)偏大若(ruo)幹倍(bei)，掩(yan)蓋了(le)真實(shi)的(de)回路電阻(zu)值(zhi)。因此，智能回路電阻(zu)測(ce)試儀對斷路器、隔離(li)開(kai)關回(hui)路電阻(zu)的(de)測(ce)量電流(liu)作出(chu)不(bu)小(xiao)於100A的(de)規定(ding)，以確(que)保測(ce)量的(de)準確(que)度(du)。

　 當前(qian)智能回路電阻(zu)測(ce)試儀采用典型的(de)四線(xian)制測(ce)量法(fa)，用高(gao)頻(pin)開(kai)關電(dian)源產生大於100A的(de)直流測(ce)試電流，施加(jia)於制造(zao)廠規(gui)定(ding)的(de)被測(ce)體兩(liang)端，並測(ce)量電流(liu)流(liu)過被測(ce)體產生的(de)壓(ya)降，采(cai)樣電(dian)路同(tong)時(shi)對電壓(ya)輸入(ru)端和內(nei)部電(dian)流分流器(qi)電壓(ya)進(jin)行(xing)采樣(yang)，取(qu)得(de)的(de)信號(hao)經(jing)放大器(qi)放大，由(you)A/D轉(zhuan)換器(qi)將模(mo)擬(ni)信號(hao)轉(zhuan)換成(cheng)數(shu)字(zi)信號(hao)後，再(zai)經(jing)微(wei)處理(li)器對數據(ju)進(jin)行(xing)濾波(bo)、運(yun)算(suan)、處(chu)理(li)，通過(guo)計算(suan)電(dian)壓(ya)值和電(dian)流值之比(bi)得(de)出(chu)被(bei)測(ce)體的(de)直流電(dian)阻(zu)值(zhi)。